• 전기화학적 스캐닝 프로브 시스템 • SECM/ic-SECM • ac-SECM • LEIS470 • SVP470 • SDS470/ac-SDS470 • SKP470 • OSP470
• Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) • Alternating Current Scanning Electrochemical Microscopy (ac-SECM) • 표면전도성 및 반응성 측정장비
• Intermittent Contact Scanning Electrochemical Microscopy (ic-SECM) • 높은 해상도로 토포그라피의 기복을 동시에 측정 장비
• Localised Impedance Spectroscopy (LEIS) • 국부적 임피던스 측정 장비
• Scanning Vibrating Electrode (SVET) • 인사이투내에서의 국소부위의 전기화학적 활동을 측정 장비
• Scanning Droplet System (SDS) • Alternating Current Scanning Droplet System (ac-SDS) • 마이크로 미터 규모의 전압전류 및 임피던스 측정 장비